EDS Ultim MAX

• Полупроводниковый детектор (ППД) рентгеновского излучения Ultim MAX с активной площадью кристаллов, на выбор – 40, 65, 100, 170 мм2 (поддерживается одновременно до 4-х детекторов) Анализ элементов в диапазоне от бериллия до калифорния, Система охлаждения - безазотная.
• Цифровой процессор импульсов (*) и цифровая система захвата изображения X4. С процессором Х4 гарантируется, что в диапазоне скоростей счета от 1000 до 400 000 имп/с разрешение и позиция пиков могут изменяться не более чем на 1эВ. Получение надежных количественных результатов возможно при скоростях счета свыше 400 тыс. имп/сек.на один детектор. Обработка спектров и картирование элементов может выполняться при скорости счета свыше 1 500 000 имп/с. Интегрированная система захвата изображения позволяет получать цифровые электронные изображения и осуществлять управление электронным зондом.
• Компьютер с OC Windows 10 64 бит и программа Aztec для анализа и интерпретации полученных данных. Один или более ЖК мониторов

(*) С середины 90-х годов прошлого века Oxford Instruments использует только полностью цифровые процессоры импульсов, без аналоговой обработки. Преимущество таких процессоров - более воспроизводимые и точные результаты обработки спектров, т.к. с цифровым сигналом проще работать при устранении разнообразных артефактов, связанных, в том числе, и с высокими нагрузками на детектор при больших скоростях счета (пики суммирования 

(**), В цифровых процессорах Oxford Instruments они полностью устраняются вплоть до третьего порядка, а потери – компенсируются). Х4 – это новый тип полностью цифрового процессора. Он работает быстрее и обеспечивает получение спектров, свободных от ложных пиков (пиков суммирования) и других артефактов, влияющих на конечный результат.  

(**)  -  пики суммирования – это нежелательные артефакты спектра, возникающие, когда в систему счета ЭДС детектора приходят одновременно два или более рентгеновских фотона. Они регистрируются на суммарной энергии, в результате чего в спектре появляются пики, не связанные в присутствием какого-либо элемента в образце (например, для  чистого SiO2, помимо пиков кремния и кислорода могут появиться ложные пики на суммарной энергии линий Si+Si, Si+O, O+O,  Si+Si+O, Si+O+(O+Si) и т.п..) Такие пики могут быть ложно идентифицированы как пики другого элемента, что приведет к неправильным выводам о составе образца. Вероятность их появления тем выше, чем выше скорость счета. Для точного качественного и количественного анализа состава их требуется не только удалить из спектра, но также необходимо вернуть потерянные на их образование импульсы в исходные пики.