AFM Nenovision LiteScope
Характеристики
Производитель
—
TESCAN
Тип
—
AFM
AFM Nenovision LiteScope
Модуль для сканирующей зондовой микроскопии Nenovision LiteScopeTM, интегрируемый в камеру сканирующего электронного микроскопа
Корреляционная зондовая и электронная микроскопия (CPEM) – это методика, объединяющая сканирующую электронную микроскопию (SEM) и сканирующую зондовую микроскопию (SPM). С помощью данной методики изображение заданного участка поверхности образца может быть получено одновременно в SEM и SPM режимах в общей системе координат. Таким образцом, совмещенное (корреляционное) изображение содержит дополнительную информацию о топографии и других особенностях поверхности образца.
Корреляционная зондовая и электронная микроскопия (CPEM) – это методика, объединяющая сканирующую электронную микроскопию (SEM) и сканирующую зондовую микроскопию (SPM). С помощью данной методики изображение заданного участка поверхности образца может быть получено одновременно в SEM и SPM режимах в общей системе координат. Таким образцом, совмещенное (корреляционное) изображение содержит дополнительную информацию о топографии и других особенностях поверхности образца.
Ключевые преимущества:
- Трехмерная визуализация структуры поверхности.
- Комплексная информация о поверхности – топография, шероховатость, магнитные и электрические свойства, проводимость и др.
- Живое SEM-изображение обеспечивает точную навигацию и позиционирование SPM-зонда на интересующем участке поверхности образца.
- Удобное управление модулем и простая интеграция в камеру SEM.
- Широкий спектр режимов зондового сканирования (AFM, EFM, MFM, STM).
Документы
Габариты модуля: 129 мм x 90 мм х 45-55 мм
Вес модуля: 650 г
Рабочее давление: от 10-5 Па до 105 Па
Рабочая температура: от +15°С до +25°С
Максимальный объем зондового сканирования: 22 мм х 11 мм х 8 мм
Доступные режимы зондового сканирования:
- атомно-силовая микроскопия (AFM-contact, AFM-tapping)
- атомно-силовая микроскопия проводимости (conductive-AFM, по запросу)
- электростатическая силовая микроскопия (EFM, по запросу)
- магнитно-силовая микроскопия (MFM, по запросу)
- сканирующая туннельная микроскопия (STM, по запросу).
Диапазоны сканирования в зависимости от пространственного разрешения:
- 100 мкм (<2 нм)
- 50 мкм (<1 нм)
- 10 мкм (<0.2 нм)
- 5 мкм (<0.2 нм)