Корпоративный сайт
8 800 222-77-59
Задать вопрос
Компания
  • О компании
  • Партнеры
  • Вакансии
  • Контакты
  • Реквизиты
Оборудование и ПО
  • Аддитивные технологии
    • Специализированное ПО
    • 3D-принтеры
    • Вспомогательное оборудование
    • Контроль качества
    • Материалы для 3D печати
  • Оборудование для интегральной фотоники
    • Оптические измерения
    • Источники излучения и аттенюаторы
    • Монтаж волоконных выводов
    • Оптические зондовые станции
    • Инспекция / контроль качества
    • Системы позиционирования и оптомеханика
    • Оборудование для волоконной оптики
    • Испытания устройств внешним воздействием
  • Исследовательское оборудование
    • Анализ формы и размера частиц
    • Анализ химического и фазового состава
    • Микроскопия
    • Электронная микроскопия
    • Анализ поверхности и наноструктур
    • Механические испытания
    • Твердомеры
    • Термоанализ и реология
  • Новые материалы
    • Нановолокна
Услуги
  • Аддитивное проектирование
    • Проектирование и Реверс-инжиниринг
    • Инженерный анализ, оптимизация конструкций и метаматериалов
    • Технологическая подготовка в аддитивном производстве
    • Моделирование процессов аддитивного производства и компенсация технологических деформаций
  • Фотоника
    • Разработка измерительных комплексов
    • Разработка систем юстировки оптических каналов
  • Заказное производство
    • 3D печать заготовок деталей и оснастки из полимерных материалов
    • Обработка сложнопрофильных металлических деталей
    • Разработка и производство функциональных макетов
    • 3D печать из металлов на заказ
    • Печать моделей для литья
  • Техническое обслуживание
    • Техническое обслуживание
  • Обучение и консалтинг
    • Обучение в области аддитивных технологий
База знаний
  • Статьи
  • Видеоматериалы
Новости
Федеральный
Санкт-Петербург
Москва
Пермь
Федеральный
Иннфокус
Компания
  • О компании
  • Партнеры
  • Вакансии
  • Контакты
  • Реквизиты
Оборудование и ПО
  • Аддитивные технологии
    Аддитивные технологии
    • Специализированное ПО
    • 3D-принтеры
    • Вспомогательное оборудование
    • Контроль качества
    • Материалы для 3D печати
  • Оборудование для интегральной фотоники
    Оборудование для интегральной фотоники
    • Оптические измерения
    • Источники излучения и аттенюаторы
    • Монтаж волоконных выводов
    • Оптические зондовые станции
    • Инспекция / контроль качества
    • Системы позиционирования и оптомеханика
    • Оборудование для волоконной оптики
    • Испытания устройств внешним воздействием
  • Исследовательское оборудование
    Исследовательское оборудование
    • Анализ формы и размера частиц
    • Анализ химического и фазового состава
    • Микроскопия
    • Электронная микроскопия
    • Анализ поверхности и наноструктур
    • Механические испытания
    • Твердомеры
    • Термоанализ и реология
  • Новые материалы
    Новые материалы
    • Нановолокна
Услуги
  • Аддитивное проектирование
    Аддитивное проектирование
    • Проектирование и Реверс-инжиниринг
    • Инженерный анализ, оптимизация конструкций и метаматериалов
    • Технологическая подготовка в аддитивном производстве
    • Моделирование процессов аддитивного производства и компенсация технологических деформаций
  • Фотоника
    Фотоника
    • Разработка измерительных комплексов
    • Разработка систем юстировки оптических каналов
  • Заказное производство
    Заказное производство
    • 3D печать заготовок деталей и оснастки из полимерных материалов
    • Обработка сложнопрофильных металлических деталей
    • Разработка и производство функциональных макетов
    • 3D печать из металлов на заказ
    • Печать моделей для литья
  • Техническое обслуживание
    Техническое обслуживание
    • Техническое обслуживание
  • Обучение и консалтинг
    Обучение и консалтинг
    • Обучение в области аддитивных технологий
База знаний
  • Статьи
  • Видеоматериалы
Новости
    Федеральный
    Санкт-Петербург
    Москва
    Пермь
    Федеральный
    8 800 222-77-59
    En
    Задать вопрос
    Иннфокус
    Компания
    • О компании
    • Партнеры
    • Вакансии
    • Контакты
    • Реквизиты
    Оборудование и ПО
    • Аддитивные технологии
      Аддитивные технологии
      • Специализированное ПО
      • 3D-принтеры
      • Вспомогательное оборудование
      • Контроль качества
      • Материалы для 3D печати
    • Оборудование для интегральной фотоники
      Оборудование для интегральной фотоники
      • Оптические измерения
      • Источники излучения и аттенюаторы
      • Монтаж волоконных выводов
      • Оптические зондовые станции
      • Инспекция / контроль качества
      • Системы позиционирования и оптомеханика
      • Оборудование для волоконной оптики
      • Испытания устройств внешним воздействием
    • Исследовательское оборудование
      Исследовательское оборудование
      • Анализ формы и размера частиц
      • Анализ химического и фазового состава
      • Микроскопия
      • Электронная микроскопия
      • Анализ поверхности и наноструктур
      • Механические испытания
      • Твердомеры
      • Термоанализ и реология
    • Новые материалы
      Новые материалы
      • Нановолокна
    Услуги
    • Аддитивное проектирование
      Аддитивное проектирование
      • Проектирование и Реверс-инжиниринг
      • Инженерный анализ, оптимизация конструкций и метаматериалов
      • Технологическая подготовка в аддитивном производстве
      • Моделирование процессов аддитивного производства и компенсация технологических деформаций
    • Фотоника
      Фотоника
      • Разработка измерительных комплексов
      • Разработка систем юстировки оптических каналов
    • Заказное производство
      Заказное производство
      • 3D печать заготовок деталей и оснастки из полимерных материалов
      • Обработка сложнопрофильных металлических деталей
      • Разработка и производство функциональных макетов
      • 3D печать из металлов на заказ
      • Печать моделей для литья
    • Техническое обслуживание
      Техническое обслуживание
      • Техническое обслуживание
    • Обучение и консалтинг
      Обучение и консалтинг
      • Обучение в области аддитивных технологий
    База знаний
    • Статьи
    • Видеоматериалы
    Новости
      Федеральный
      Санкт-Петербург
      Москва
      Пермь
      Федеральный
      En
      Задать вопрос
      Иннфокус
      En
      Телефоны
      8 800 222-77-59 Федеральный
      Заказать звонок
      Иннфокус
      • Компания
        • Компания
        • О компании
        • Партнеры
        • Вакансии
        • Контакты
        • Реквизиты
      • Оборудование и ПО
        • Оборудование и ПО
        • Аддитивные технологии
          • Аддитивные технологии
          • Специализированное ПО
          • 3D-принтеры
          • Вспомогательное оборудование
          • Контроль качества
          • Материалы для 3D печати
        • Оборудование для интегральной фотоники
          • Оборудование для интегральной фотоники
          • Оптические измерения
          • Источники излучения и аттенюаторы
          • Монтаж волоконных выводов
          • Оптические зондовые станции
          • Инспекция / контроль качества
          • Системы позиционирования и оптомеханика
          • Оборудование для волоконной оптики
          • Испытания устройств внешним воздействием
        • Исследовательское оборудование
          • Исследовательское оборудование
          • Анализ формы и размера частиц
          • Анализ химического и фазового состава
          • Микроскопия
          • Электронная микроскопия
          • Анализ поверхности и наноструктур
          • Механические испытания
          • Твердомеры
          • Термоанализ и реология
        • Новые материалы
          • Новые материалы
          • Нановолокна
      • Услуги
        • Услуги
        • Аддитивное проектирование
          • Аддитивное проектирование
          • Проектирование и Реверс-инжиниринг
          • Инженерный анализ, оптимизация конструкций и метаматериалов
          • Технологическая подготовка в аддитивном производстве
          • Моделирование процессов аддитивного производства и компенсация технологических деформаций
        • Фотоника
          • Фотоника
          • Разработка измерительных комплексов
          • Разработка систем юстировки оптических каналов
        • Заказное производство
          • Заказное производство
          • 3D печать заготовок деталей и оснастки из полимерных материалов
          • Обработка сложнопрофильных металлических деталей
          • Разработка и производство функциональных макетов
          • 3D печать из металлов на заказ
          • Печать моделей для литья
        • Техническое обслуживание
          • Техническое обслуживание
          • Техническое обслуживание
        • Обучение и консалтинг
          • Обучение и консалтинг
          • Обучение в области аддитивных технологий
      • База знаний
        • База знаний
        • Статьи
        • Видеоматериалы
      • Новости
      Задать вопрос
      • Федеральный
        • Города
        • Санкт-Петербург
        • Москва
        • Пермь
        • Федеральный
      • 8 800 222-77-59 Федеральный
        • Телефоны
        • 8 800 222-77-59 Федеральный
        • Заказать звонок
      • Головной офис г. Пермь

        +7 342 225-11-31
        "Технопарк Пермь"
         ул. Стахановская, 54П, офис 211

        Проектный офис г. Москва

        +7 495 109-11-31
        БЦ White Stone
        4-й Лесной переулок, 4, 4-5 этаж


        Проектный офис г. Санкт-Петербург

        +7 812 209-11-31
        БЦ Renaissance Hall
        Щербаков пер., 14, 3 этаж
      • in@infcs.ru

      Векторный анализатор цепей E5080B

      Главная
      —
      Технологии
      —
      Оборудование для интегральной фотоники
      —
      Оптические измерения
      —
      Оптические векторные анализаторы
      —Векторный анализатор цепей E5080B
      Векторный анализатор цепей E5080B
      Запросить коммерческое предложение
      Векторный анализатор цепей E5080B
      Векторный анализатор цепей E5080B
      Векторный анализатор цепей E5080B
      Векторный анализатор цепей E5080B
      Векторный анализатор цепей E5080B
      Векторный анализатор цепей E5080B
      Векторный анализатор цепей E5080B
      Векторный анализатор цепей E5080B

      Самый универсальный и гибкий анализатор цепей серии ENA

      Подробнее
      Характеристики
      Производитель
      —
      Keysight Technologies
      Модель
      —
      E5080B
      Векторный анализатор цепей E5080B
      Запросить коммерческое предложение
      • Описание
      • Документы
      • Технические характеристики
      The New Standard

      As devices become highly integrated, complete characterization requires a complete RF and microwave measurement solution. The E5080B provides R&D performance up to 20 GHz and advanced test flexibility. Best-in-class dynamic range, trace noise, and temperature stability guarantee reliability and repeatability. 

      • Wide frequency coverage from 9 kHz to 4.5/6.5/9/14/20 GHz
      • Fully capture device performance with a wide dynamic range of 140 dB
      • Achieve complete device characterization with optional built in DC sources, bias tees, pulse generators and pulse modulators
      • Consistently test between R&D and production with the same UI and SCPI commands as high-end PNAs. 
      • Improve throughput by performing spectrum analysis, pulsed-RF measurements, vector mixer measurements, noise figure, and more on a single instrument
      Широкие и гибкие функциональные возможности

      Анализатор E5080B позволяет снизить расходы и упростить конфигурирование нескольких приборов. Встроенные аппаратные средства для проведения разнообразных испытаний превращают анализатор E5080B в полнофункциональное измерительное решение.

      Для анализатора E5080B доступны следующие опции:

      • Источники постоянного тока
      • Генераторы импульсов и импульсные модуляторы
      • Анализ спектра
      • Измерения коэффициента шума
      Документы
      Векторный анализатор цепей E5080B
      5,7 Мб
      Dynamic Range
      The specifications in this section apply to measurements made with the Keysight E5080B ENA Series
      vector network analyzer under the following conditions:
      • No averaging applied to data

      Table 1. System Dynamic Range at Test Port (dB)1
      Option 240/260/290/2D0/2H0/2K0/440/460/490/4D0/4H0/4K0/442/462/492/4D2/4H2/4K2 (without bias tee options)
      Description Specification Typical
      9 kHz to 100 kHz 101 111
      100 kHz to 300 kHz 117 126
      300 kHz to 1 MHz 125 136
      1 MHz to 10 MHz 130 141
      10 MHz to 50 MHz 2 137 147
      50 MHz to 3 GHz 140 150
      3 GHz to 5 GHz 140 149
      5 GHz to 6.5 GHz 140 148
      6.5 GHz to 9 GHz 136 146
      9 GHz to 14 GHz 133 142
      14 GHz to 16 GHz 130 140
      16 GHz to 20 GHz 126 137

      Option 2L0/2M0/2N0/2P0/4L0/4M0/4N0/4P0/4L2/4M2/4N2/4P2
      Description Specification Typical
      100 kHz to 300 kHz 95 106
      300 kHz to 500 kHz 104 120
      500 kHz to 1 MHz 117 130
      1 MHz to 10 MHz 125 138
      10 MHz to 50 MHz 2 137 147
      50 MHz to 6.5 GHz 140 150
      6.5 GHz to 8 GHz 138 150
      8 GHz to 9 GHz 138 147
      9 GHz to 16 GHz 137 147
      16 GHz to 17 GHz 137 143
      17 GHz to 20 GHz 132 143
      20 GHz to 24 GHz 130 143
      24 GHz to 25 GHz 130 141
      25 GHz to 26 GHz 127 141
      26 GHz to 30 GHz 127 137
      30 GHz to 35 GHz 122 137
      35 GHz to 40 GHz 122 134
      40 GHz to 45 GHz 122 132
      45 GHz to 50 GHz 99 114
      50 GHz to 53 GHz 71 100
      1. System dynamic range = source maximum output power minus receiver noise floor at 10 Hz IF bandwidth. Does not include
      crosstalk effects.
      2. It may typically be degraded at 25 MHz.

      Enhanced Time Domain Analysis with TDR (with S96011B/A)
      This section provides specifications for the enhanced time domain analysis on the E5080B ENA Series VNA. The S96011B/A Software is required to enable enhanced time domain analysis functions of the E5080B.

      Table 45. Key Specifications of Enhanced Time Domain Analysis
      Option 240/260/290/2D0/2H0/2K0/440/460/490/4D0/4H0/4K0/442/462/492/4D2/4H2/4K2
      Description   Option 2K0/4K0/
      4K2
      Option 2H0/4H0/
      4H2
      Option 2D0/4D0/
      4D2
      Option 290/490/
      492
      Option 260/460/
      462
      Option 240/440/
      442
      Bandwidth Spec. 20 GHz 18 GHz 14 GHz 9 GHz 6.5 GHz 4.5 GHz
      Input impedance Nom. 50 ohm
      DC damage level at test port Spec. 35 V
      Maximum test port input voltage (Hot TDR mode) Typ. 1.5 Vpp
      TDR stimulus 1 Nom. Step, Impulse
      TDR step amplitude 2 Nom. 1 mV to 5 V
      TDR step rise time 3 (min) (10% to 90%) Spec. 22.3 ps 24.8 ps 31.9 ps 49.6 ps 68.6 ps 99.1 ps
      TDR step response resolution in free space 4 (εr = 1) (min) Nom. 3.3 mm 3.7 mm 4.8 mm 7.4 mm 10.3 mm 14.9 mm
      TDR impulse width (min) 3 Spec. 30.2 ps 33.6 ps 43.1 ps 67.1 ps 92.9 ps 135 ps
      TDR deskew range (max) 5 (test cable length) Typ. 50 ns 50 ns 50 ns 50 ns 50 ns 50 ns
      DUT length (max) 6 Spec. 13.8 μs 13.8 μs 13.8 μs 13.8 μs 13.8 μs 13.8 μs
      TDR stimulus repetition rate (max) Spec. 19.9 MHz 17.9 MHz 13.9 MHz 8.9 MHz 6.4 MHz 4.4 MHz
      RMS noise level 7 Typ. 60 μVrms 60 μVrms 60 μVrms 60 μVrms 60 μVrms 60 μVrms
      Eye diagram data rate (max) 8 Spec. 16 Gb/s 14.4 Gb/s 11.2 Gb/s 7.2 Gb/s 5.2 Gb/s 3.6 Gb/s
      1. The time domain function of the S96011B/A is similar to the time domain reflectometry (TDR) measurement on a TDR oscilloscope
      in that it displays the response in the time domain. In the TDR oscilloscope measurement, a pulse or step stimulus is input to the
      DUT and the change of the reflected wave over time is measured. In the S96011B/A TDR measurement, a sine wave stimulus is
      input to the DUT and the change of the reflected wave over frequency is measured. Then, the frequency domain response is
      transformed to the time domain using the Inverse Fourier Transform.
      2. The TDR step amplitude setting does not vary the actual stimulus level input to the device but is used when calculating the Inverse
      Fourier Transform.
      3. Minimum values may be limited by the DUT length setting.
      4. To convert from rise time to response resolution, multiply the rise time by c, the speed of light in free space. To calculate the actual
      physical length, multiply this value in free space by vf, the relative velocity of propagation in the transmission medium. (Most
      cables have a relative velocity of 0.66 for a polyethylene dielectric or 0.7 for a PTFE dielectric.)
      5. Using high quality cables to connect the DUT is recommended in order to minimize measurement degradation. The cables should
      have low loss, low reflections, and minimum performance variation when flexed.
      6. Maximum DUT length is the sum of the DUT and test cable lengths.
      7. RMS noise level with 50 Ω DUT and default setup.
      8. Maximum values may be limited by the DUT length setting.

      Option 2L0/2M0/2N0/2P0/4L0/4M0/4N0/4P0/4L2/4M2/4N2/4P2
      Description   Option 2P0/4P0/4P2 Option 2N0/4N0/4N2 Option 2M0/4M0/4M2 Option 2L0/4L0/4L2
      Bandwidth Spec. 53 GHz 44 GHz 32 GHz 26.5 GHz
      Input impedance Nom. 50 ohm
      DC damage level at test port Spec. 35 V
      Maximum test port input voltage (Hot TDR mode) Typ. 1.5 V (100 kHz to 20 GHz)
      0.9 V (20 GHz to 30 GHz)
      0.7 V (30 GHz to 40 GHz)
      0.5 V (40 GHz to 53 GHz)
      1.5 V (100 kHz to 20 GHz)
      0.9 V (20 GHz to 30 GHz)
      0.7 V (30 GHz to 40 GHz)
      0.5 V (40 GHz to 44 GHz)
        1.5 V (100 kHz to 20 GHz)
      0.9 V (20 GHz to 30 GHz)
      0.7 V (30 GHz to 32 GHz)
        1.5 V (100 kHz to 20 GHz)
      0.9 V (20 GHz to 26.5 GHz)
      TDR stimulus 1 Nom. Step, Impulse
      TDR step amplitude 2 Nom. 1 mV to 5 V
      TDR step rise time 3 (min) (10% to 90%) Spec. 8.42 ps 10.2 ps 14 ps 16.9 ps
      TDR step response resolution in free space 4 (εr = 1) (min) Nom.   1.3 mm   1.5 mm   2.1 mm   2.5 mm
      TDR impulse width (min) 3 Spec. 11.4 ps 13.8 ps 18.9 ps 22.8 ps
      TDR deskew range (max) 5 (test cable length) Typ.   50 ns   50 ns   50 ns   50 ns
      DUT length (max) 6 Spec. 1.25 μs 1.25 μs 1.25 μs 1.25 μs
      TDR stimulus repetition rate (max) Spec. 52.9 MHz 43.9 MHz 31.9 MHz 26.4 MHz
      RMS noise level 7 Typ. 120 μVrms 80 μVrms 80 μVrms 80 μVrms
      Eye diagram data rate (max) 8 Spec 42.4 Gb/s 35.2 Gb/s 25.6 Gb/s 21.2 Gb/s

      1. The time domain function of the S96011B/A is similar to the time domain reflectometry (TDR) measurement on a TDR oscilloscope
      in that it displays the response in the time domain. In the TDR oscilloscope measurement, a pulse or step stimulus is input to the
      DUT and the change of the reflected wave over time is measured. In the S96011B/A TDR measurement, a sine wave stimulus is
      input to the DUT and the change of the reflected wave over frequency is measured. Then, the frequency domain response is
      transformed to the time domain using the Inverse Fourier Transform.
      2. The TDR step amplitude setting does not vary the actual stimulus level input to the device but is used when calculating the Inverse
      Fourier Transform.
      3. Minimum values may be limited by the DUT length setting.
      4. To convert from rise time to response resolution, multiply the rise time by c, the speed of light in free space. To calculate the actual
      physical length, multiply this value in free space by vf, the relative velocity of propagation in the transmission medium. (Most
      cables have a relative velocity of 0.66 for a polyethylene dielectric or 0.7 for a PTFE dielectric.)
      5. Using high quality cables to connect the DUT is recommended in order to minimize measurement degradation. The cables should
      have low loss, low reflections, and minimum performance variation when flexed.
      6. Maximum DUT length is the sum of the DUT and test cable lengths.
      7. RMS noise level with 50 Ω DUT and default setup.
      8. Maximum values may be limited by the DUT length setting.

      Назад к списку
      Компания
      О компании
      Партнеры
      Вакансии
      Контакты
      Реквизиты
      Оборудование
      Аддитивные технологии
      Оборудование для интегральной фотоники
      Исследовательское оборудование
      Новые материалы
      Услуги
      Аддитивное проектирование
      Фотоника
      Заказное производство
      Техническое обслуживание
      Обучение и консалтинг
      8 800 222-77-59
      in@infcs.ru
      Головной офис г. Пермь

      +7 342 225-11-31
      "Технопарк Пермь"
       ул. Стахановская, 54П, офис 211

      Проектный офис г. Москва

      +7 495 109-11-31
      БЦ White Stone
      4-й Лесной переулок, 4, 4-5 этаж


      Проектный офис г. Санкт-Петербург

      +7 812 209-11-31
      БЦ Renaissance Hall
      Щербаков пер., 14, 3 этаж

      © 2023 Все права защищены.
      ООО "ИННФОКУС"
      Нас ищут: инфокус (infocus)

      Политика конфиденциальности
      Главная Оборудование Контакты Услуги Новости Партнеры Компания