Корпоративный сайт
8 800 222-77-59
Задать вопрос
Компания
  • О компании
  • Партнеры
  • Вакансии
  • Контакты
  • Реквизиты
Оборудование и ПО
  • Аддитивные технологии
    • Специализированное ПО
    • 3D-принтеры
    • Вспомогательное оборудование
    • Контроль качества
    • Материалы для 3D-печати
  • Оборудование для интегральной фотоники
    • Оптические измерения
    • Источники излучения и аттенюаторы
    • Монтаж волоконных выводов
    • Оптические зондовые станции
    • Инспекция / контроль качества
    • Системы позиционирования и оптомеханика
    • Оборудование для волоконной оптики
    • Испытания устройств внешним воздействием
  • Исследовательское оборудование
    • Анализ формы и размера частиц
    • Анализ химического и фазового состава
    • Микроскопия
    • Электронная микроскопия
    • Анализ поверхности и наноструктур
    • Механические испытания
    • Твердомеры
    • Термоанализ и реология
  • Новые материалы
    • Нановолокна
Услуги
  • Аддитивное проектирование
    • Проектирование и реверс-инжиниринг
    • Инженерный анализ, оптимизация конструкций и метаматериалов
    • Технологическая подготовка в аддитивном производстве
    • Моделирование процессов аддитивного производства и компенсация технологических деформаций
  • Фотоника
    • Разработка измерительных комплексов
    • Разработка систем юстировки оптических каналов
  • Заказное производство
    • 3D-печать заготовок деталей и оснастки из полимерных материалов
    • Обработка сложнопрофильных металлических деталей
    • Разработка и производство функциональных макетов
    • 3D-печать из металлов на заказ
    • 3D-печать моделей для литья металлов
  • Техническое обслуживание
    • Техническое обслуживание
  • Обучение и консалтинг
    • Обучение в области аддитивных технологий
    • Проектирование центров 3D-печати под ключ
База знаний
  • Видео материалы
  • Статьи
Новости
Федеральный
Санкт-Петербург
Москва
Пермь
Федеральный
Иннфокус
Компания
  • О компании
  • Партнеры
  • Вакансии
  • Контакты
  • Реквизиты
Оборудование и ПО
  • Аддитивные технологии
    Аддитивные технологии
    • Специализированное ПО
    • 3D-принтеры
    • Вспомогательное оборудование
    • Контроль качества
    • Материалы для 3D-печати
  • Оборудование для интегральной фотоники
    Оборудование для интегральной фотоники
    • Оптические измерения
    • Источники излучения и аттенюаторы
    • Монтаж волоконных выводов
    • Оптические зондовые станции
    • Инспекция / контроль качества
    • Системы позиционирования и оптомеханика
    • Оборудование для волоконной оптики
    • Испытания устройств внешним воздействием
  • Исследовательское оборудование
    Исследовательское оборудование
    • Анализ формы и размера частиц
    • Анализ химического и фазового состава
    • Микроскопия
    • Электронная микроскопия
    • Анализ поверхности и наноструктур
    • Механические испытания
    • Твердомеры
    • Термоанализ и реология
  • Новые материалы
    Новые материалы
    • Нановолокна
Услуги
  • Аддитивное проектирование
    Аддитивное проектирование
    • Проектирование и реверс-инжиниринг
    • Инженерный анализ, оптимизация конструкций и метаматериалов
    • Технологическая подготовка в аддитивном производстве
    • Моделирование процессов аддитивного производства и компенсация технологических деформаций
  • Фотоника
    Фотоника
    • Разработка измерительных комплексов
    • Разработка систем юстировки оптических каналов
  • Заказное производство
    Заказное производство
    • 3D-печать заготовок деталей и оснастки из полимерных материалов
    • Обработка сложнопрофильных металлических деталей
    • Разработка и производство функциональных макетов
    • 3D-печать из металлов на заказ
    • 3D-печать моделей для литья металлов
  • Техническое обслуживание
    Техническое обслуживание
    • Техническое обслуживание
  • Обучение и консалтинг
    Обучение и консалтинг
    • Обучение в области аддитивных технологий
    • Проектирование центров 3D-печати под ключ
База знаний
  • Видео материалы
  • Статьи
Новости
    Федеральный
    Санкт-Петербург
    Москва
    Пермь
    Федеральный
    8 800 222-77-59
    En
    Задать вопрос
    Иннфокус
    Компания
    • О компании
    • Партнеры
    • Вакансии
    • Контакты
    • Реквизиты
    Оборудование и ПО
    • Аддитивные технологии
      Аддитивные технологии
      • Специализированное ПО
      • 3D-принтеры
      • Вспомогательное оборудование
      • Контроль качества
      • Материалы для 3D-печати
    • Оборудование для интегральной фотоники
      Оборудование для интегральной фотоники
      • Оптические измерения
      • Источники излучения и аттенюаторы
      • Монтаж волоконных выводов
      • Оптические зондовые станции
      • Инспекция / контроль качества
      • Системы позиционирования и оптомеханика
      • Оборудование для волоконной оптики
      • Испытания устройств внешним воздействием
    • Исследовательское оборудование
      Исследовательское оборудование
      • Анализ формы и размера частиц
      • Анализ химического и фазового состава
      • Микроскопия
      • Электронная микроскопия
      • Анализ поверхности и наноструктур
      • Механические испытания
      • Твердомеры
      • Термоанализ и реология
    • Новые материалы
      Новые материалы
      • Нановолокна
    Услуги
    • Аддитивное проектирование
      Аддитивное проектирование
      • Проектирование и реверс-инжиниринг
      • Инженерный анализ, оптимизация конструкций и метаматериалов
      • Технологическая подготовка в аддитивном производстве
      • Моделирование процессов аддитивного производства и компенсация технологических деформаций
    • Фотоника
      Фотоника
      • Разработка измерительных комплексов
      • Разработка систем юстировки оптических каналов
    • Заказное производство
      Заказное производство
      • 3D-печать заготовок деталей и оснастки из полимерных материалов
      • Обработка сложнопрофильных металлических деталей
      • Разработка и производство функциональных макетов
      • 3D-печать из металлов на заказ
      • 3D-печать моделей для литья металлов
    • Техническое обслуживание
      Техническое обслуживание
      • Техническое обслуживание
    • Обучение и консалтинг
      Обучение и консалтинг
      • Обучение в области аддитивных технологий
      • Проектирование центров 3D-печати под ключ
    База знаний
    • Видео материалы
    • Статьи
    Новости
      Федеральный
      Санкт-Петербург
      Москва
      Пермь
      Федеральный
      En
      Задать вопрос
      Иннфокус
      En
      Телефоны
      8 800 222-77-59 Федеральный
      Заказать звонок
      Иннфокус
      • Компания
        • Компания
        • О компании
        • Партнеры
        • Вакансии
        • Контакты
        • Реквизиты
      • Оборудование и ПО
        • Оборудование и ПО
        • Аддитивные технологии
          • Аддитивные технологии
          • Специализированное ПО
          • 3D-принтеры
          • Вспомогательное оборудование
          • Контроль качества
          • Материалы для 3D-печати
        • Оборудование для интегральной фотоники
          • Оборудование для интегральной фотоники
          • Оптические измерения
          • Источники излучения и аттенюаторы
          • Монтаж волоконных выводов
          • Оптические зондовые станции
          • Инспекция / контроль качества
          • Системы позиционирования и оптомеханика
          • Оборудование для волоконной оптики
          • Испытания устройств внешним воздействием
        • Исследовательское оборудование
          • Исследовательское оборудование
          • Анализ формы и размера частиц
          • Анализ химического и фазового состава
          • Микроскопия
          • Электронная микроскопия
          • Анализ поверхности и наноструктур
          • Механические испытания
          • Твердомеры
          • Термоанализ и реология
        • Новые материалы
          • Новые материалы
          • Нановолокна
      • Услуги
        • Услуги
        • Аддитивное проектирование
          • Аддитивное проектирование
          • Проектирование и реверс-инжиниринг
          • Инженерный анализ, оптимизация конструкций и метаматериалов
          • Технологическая подготовка в аддитивном производстве
          • Моделирование процессов аддитивного производства и компенсация технологических деформаций
        • Фотоника
          • Фотоника
          • Разработка измерительных комплексов
          • Разработка систем юстировки оптических каналов
        • Заказное производство
          • Заказное производство
          • 3D-печать заготовок деталей и оснастки из полимерных материалов
          • Обработка сложнопрофильных металлических деталей
          • Разработка и производство функциональных макетов
          • 3D-печать из металлов на заказ
          • 3D-печать моделей для литья металлов
        • Техническое обслуживание
          • Техническое обслуживание
          • Техническое обслуживание
        • Обучение и консалтинг
          • Обучение и консалтинг
          • Обучение в области аддитивных технологий
          • Проектирование центров 3D-печати под ключ
      • База знаний
        • База знаний
        • Видео материалы
        • Статьи
      • Новости
      Задать вопрос
      • 8 800 222-77-59 Федеральный
        • Телефоны
        • 8 800 222-77-59 Федеральный
        • Заказать звонок
      • Головной офис г. Пермь

        +7 342 225-11-31
         ул. Стахановская, 54П, офис 231


      • in@infcs.ru

      Векторный анализатор цепей E5071С

      Главная
      —
      Технологии
      —
      Оборудование для интегральной фотоники
      —
      Оптические измерения
      —
      Оптические векторные анализаторы
      —Векторный анализатор цепей E5071С
      Векторный анализатор цепей E5071С
      Запросить коммерческое предложение
      Векторный анализатор цепей E5071С
      Векторный анализатор цепей E5071С
      Векторный анализатор цепей E5071С
      Векторный анализатор цепей E5071С
      Векторный анализатор цепей E5071С
      Векторный анализатор цепей E5071С
      Векторный анализатор цепей E5071С
      Векторный анализатор цепей E5071С
      Векторный анализатор цепей E5071С
      Векторный анализатор цепей E5071С

      Новый стандарт быстродействия, точности и универсальности

      Подробнее
      Характеристики
      Производитель
      —
      Keysight Technologies
      Модель
      —
      E5071С
      Векторный анализатор цепей E5071С
      Запросить коммерческое предложение
      • Описание
      • Документы
      • Технические характеристики
      Новый стандарт

      Векторный анализатор цепей Keysight E5071C серии ENA открывает новые горизонты скорости, точности и универсальности. Обладающий широким спектром измерительных возможностей, анализатор E5071C серии ENA предлагает скорость и гибкость решения задач тестирования при проектировании и на производстве в таких областях, как беспроводная связь, автомобилестроение, производство полупроводниковых приборов и медицинского оборудование:

      • Широкий диапазон частот от 9 кГц до 4,5/6,5/8,5/14/20 ГГц
      • Гибкая многопортовая конфигурация – до 22 портов с E5092A
      • Универсальное применение с 2 или 4 портами
      • Широкий динамический диапазон 130 дБ, высокая скорость измерений – 8 мс, превосходная температурная стабильность 0,005 дБ/°C
      • Встроенная среда программирования VBA обеспечивает высокую пропускную способность с возможностью создания специализированных интерфейсов пользователя
      • Полное измерение характеристик высокоскоростных последовательных интерфейсов с возможностью расширенного анализа во временной области
      • Опции для обновления и модернизации в любое время
      Высокая производительность качества с гарантией качества

      Анализатор E5071C идеально подходит для тестирования пассивных компонентов в условиях серийного производства. Превосходные измерительные характеристики анализатора способствуют увеличению пропускной способности, что повышает ваши производственные возможности, особенно при использовании совместно с многопортовым измерительным блоком E5092A. Гибкая схема многопортовых измерений позволяет значительно сократить время тестирования.

      Документы
      Векторный анализатор цепей E5071С
      4,5 Мб
      Corrected System Performance

      The specifications in this section apply to measurements made with the
      Keysight Technologies, Inc. E5071C vector network analyzer under the following conditions:
      – No averaging applied to data
      – Environmental temperature of 23 °C (±5 °C) with less than 1 °C deviation from the calibration temperature
      – Response and isolation calibration performed
      – RF Range Fixed Mode: OFF

      System dynamic range
      Table 1. Option 230/235/240/245/260/265/280/285/430/435/440/445/460/465/480/485
      Description   Specification SPD
      System dynamic range 1, 2, 3
      9 kHz to 300 kHz
      300 kHz to 10 MHz
      10 MHz to 6 GHz
      6 GHz to 8.5 GHz
        IF bandwidth = 3 kHz 72 dB
      82 dB
      98 dB
      92 dB
       
      9 kHz to 300 kHz   97 dB 115 dB
      300 kHz to 10 MHz   107 dB 115 dB
      10 MHz to 6 GHz IF bandwidth = 10 Hz 123 dB 130 dB
      6 GHz to 7 GHz   117 dB 128 dB
      7 GHz to 8 GHz   117 dB 126 dB
      8 GHz to 8.5 GHz   117 dB 124 dB
      1. The test port dynamic range is calculated as the difference between the test port rms noise floor and the source maximum output power. The effective dynamic range must take measurement uncertainty and interfering signals into account.
      2. The specification might not be met at 5 MHz or 50 MHz.
      3. System Dynamic Range may be degraded by 10 dB when RF Range Fixed Mode is ON.

      Table 2. Option 2D5/2K5/4D5/4K5
      Description Specification SPD
      System dynamic range 1, 2
      300 kHz to 1 MHz
      1 MHz to 10 MHz
      10 MHz to 100 MHz
      100 MHz to 6 GHz
      6 GHz to 8.5 GHz
      8.5 GHz to 10.5 GHz
      10.5 GHz to 15 GHz
      15 GHz to 20 GHz
      IF bandwidth = 3 kHz 70 dB
      82 dB
      95 dB
      98 dB
      80 dB
      75 dB
      71 dB
      300 kHz to 1 MHz
      1 MHz to 10 MHz
      10 MHz to 100 MHz
      100 MHz to 6 GHz
      6 GHz to 8 GHz
      8 GHz to 8.5 GHz
      8.5 GHz to 10.5 GHz
      10.5 GHz to 15 GHz
      15 GHz to 20 GHz
      IF bandwidth = 10 Hz 95 dB
      107 dB
      120 dB
      123 dB
      117 dB
      117 dB
      105 dB
      100 dB
      96 dB
      105 dB
      115 dB
      129 dB
      130 dB
      129 dB
      127 dB
      115 dB
      111 dB
      105 dB

      Test port input (trace noise)
      Table 20. Option 230/235/240/245/260/265/280/285/430/435/440/445/460/465/480/485
      Description Specification 3 SPD
      Trace noise magnitude1
      9 kHz to 30 kHz (IFBW = 3 kHz) 0.004 dB rms 0.001 dB rms
      30 kHz to 100 kHz (IFBW = 3 kHz) 0.003 dB rms 0.001 dB rms
      100 kHz to 10 MHz (IFBW = 3 kHz) 0.003 dB rms 0.0005 dB rms
      10 MHz to 4.38 GHz (IFBW = 10 kHz) 0.0005 dB rms
      4.38 GHz to 8.5 GHz (IFBW = 10 kHz) 0.0006 dB rms
      10 MHz to 4.38 GHz (IFBW = 70 kHz) 0.004 dB rms
      (Reflection)
      0.001 dB rms
      0.003 dB rms
      (Transmission)
      4.38 GHz to 5 GHz (IFBW = 70 kHz) 0.006 dB rms 0.0012 dB rms
      5 GHz to 6 GHz (IFBW = 70 kHz) 0.006 dB rms 0.0012 dB rms
      6 GHz to 7 GHz (IFBW = 70 kHz) 0.006 dB rms 0.0012 dB rms
      7 GHz to 8.5 GHz (IFBW = 70 kHz)
      (at maximum output power level of sweep range)
      0.006 dB rms 0.0012 dB rms
      Trace noise phase 2
      9 kHz to 30 kHz (IFBW = 3 kHz) 0.035 deg rms
      30 kHz to 10 MHz (IFBW = 3 kHz) 0.020 deg rms
      10 MHz to 4.38 GHz (IFBW = 70 kHz) 0.035 deg rms
      4.38 GHz to 5 GHz (IFBW = 70 kHz) 0.050 deg rms
      5 GHz to 6 GHz (IFBW = 70 kHz) 0.050 deg rms
      6 GHz to 7 GHz (IFBW = 70 kHz) 0.050 deg rms
      7 GHz to 8.5 GHz (IFBW = 70 kHz)
      (at maximum output power level of sweep range)
      0.050 deg rms

      1. The specification might not be met at the following frequencies: 333.333 kHz, 406.25 kHz, 857.143 kHz, 928.571 kHz, 1.3 MHz, 2.4 MHz and 4.333333 MHz.
      2. The specification might not be met at 5 MHz or 50 MHz.
      3. When RF Range Fixed Mode is ON, multiply by 2.3.

      Test port input (trace noise) (continued)
      Table 21. Option 2D5/2K5/4D5/4K5
      Description Specification 3 SPD
      Trace noise magnitude 1,3
      300 kHz to 1 MHz (IFBW = 3 kHz) 0.006 dB rms 0.0009 dB rms 0.006 dB rms 0.0009 dB rms
      1 MHz to 10 MHz (IFBW = 3 kHz) 0.003 dB rms 0.0005 dB rms 0.003 dB rms 0.0005 dB rms
      10 MHz to 4.38 GHz (IFBW = 70 kHz) 0.004 dB rms 0.0010 dB rms
      4.38 GHz to 8.5 GHz (IFBW = 70 kHz) 0.006 dB rms 0.0012 dB rms 0.006 dB rms 0.0012 dB rms
      8.5 GHz to 13.137 GHz (IFBW = 70 kHz) 0.009 dB rms 0.0024 dB rms 0.009 dB rms 0.0024 dB rms
      13.137 GHz to 17 GHz (IFBW = 70 kHz) 0.013 dB rms 0.0040 dB rms
      17 GHz to 20 GHz (IFBW = 70 kHz)
      (at maximum output power level of sweep range)
       
      0.023 dB rms 0.0065 dB rms
      Trace noise phase 2,3
      300 kHz to 1 MHz (IFBW = 3 kHz) 0.040 deg rms 0.0120 deg rms
      1 MHz to 10 MHz (IFBW = 3 kHz) 0.020 deg rms 0.0025 deg rms 0.020 deg rms 0.0025 deg rms
      10 MHz to 4.38 GHz (IFBW = 70 kHz) 0.035 deg rms 0.0075 deg rms
      4.38 GHz to 8.5 GHz (IFBW = 70 kHz) 0.050 deg rms 0.0150 deg rms
      8.5 GHz to 13.137 GHz (IFBW = 70 kHz) 0.064 deg rms 0.0250 deg rms
      13.137 GHz to 17 GHz (IFBW = 70 kHz) 0.095 deg rms 0.0320 deg rms
      17 GHz to 20 GHz (IFBW = 70 kHz)
      (at maximum output power level of sweep range)
      0.165 deg rms 0.0520 deg rms

      1. The specification might not be met at the following frequencies: 406.25 kHz, 666.667 kHz, 722.222 kHz, 857.143 kHz, 928.571 kHz, 1.444444 MHz, 1.714286 MHz, 1.8 MHz, 1.857143 MHz, 1.95 MHz, 2.4375 MHz, 2.571429 MHz, 3.714286 MHz, 4.8 MHz, 5 MHz, 5.416667 MHz, 7.583333 MHz, 10 MHz, 10.833333 MHz, 12.5 MHz.
      2. The specification might not be met at 5 MHz or 50 MHz.
      3. Trace noise SPD is defined with transmission measurements only.

      Test port input (stability)1
      Table 22. Option 230/235/240/245/260/265/280/285/430/435/440/445/460/465/480/485
      Description Specification SPD
      Stability magnitude
      9 kHz to 3 GHz ±0.005 dB/°C
      3 GHz to 6 GHz ±0.01 dB/°C
      6 GHz to 8.5 GHz ±0.04 dB/°C
      Stability phase
      9 kHz to 3 GHz ±0.1 deg/°C
      3 GHz to 6 GHz ±0.2 deg/°C
      6 GHz to 8.5 GHz ±0.8 deg/°C

      Table 23. Option 2D5/2K5/4D5/4K5
      Description Specification SPD
      Stability magnitude
      300 kHz to 3 GHz ±0.005 dB/°C
      3 GHz to 6 GHz ±0.01 dB/°C
      6 GHz to 20 GHz ±0.04 dB/°C
      Stability phase
      300 kHz to 3 GHz ±0.1 deg/°C
      3 GHz to 6 GHz ±0.2 deg/°C
      6 GHz to 20 GHz ±0.8 deg/°C

      1. Stability is defined as a ratio measurement at the test port.

      Test port input (dynamic accuracy) 1,2
      Table 24. Option 230/235/240/245/260/265/280/285/430/435/440/445/460/465/480/485
      Accuracy of the test port input power reading is relative to –10 dBm reference input power level.
      Description Specification Typical
      Dynamic accuracy magnitude    
      10 dBm ±0.207 dB  
      –30 dBm ±0.045 dB  
      –100 dBm ±2.00 dB  
      –110 dBm   ±3.0 dB
      Dynamic accuracy phase    
      10 dBm ±5.03 deg  
      –30 dBm ±0.30 deg  
      –100 dBm ±15.0 deg  

      E5071С.png
      1. Dynamic accuracy is verified with the following measurements:
      – Compression over frequency
      – IF linearity at two frequencies (1 MHz and 1.195 GHz) using a reference level of –10 dBm for an input power range of
      0 to –100 dBm. For value below –60 dBm, refer to "VNA Receiver Dynamic Accuracy Specifications and Uncertainties
      N5247-90003"
      http://cp.literature.keysight.com/litweb/pdf/N5247-90003.pdf
      2. RF Range Fixed Mode is OFF

      Test port input (dynamic accuracy)1 (continued)
      Table 25. Option 2D5/2K5/4D5/4K5
      Accuracy of the test port input power reading is relative to –10 dBm reference input power level.
      Description Specification Typical
      Dynamic accuracy magnitude    
      10 dBm ±2.49 dB  
      –30 dBm ±0.046 dB  
      –100 dBm ±2.00 dB  
      –110 dBm   ±3.0 dB
      Dynamic accuracy phase    
      10 dBm ±20.6 deg  
      –30 dBm ±0.30 deg  
      –100 dBm ±15.0 deg  

      E5071С 2.png
      1. Dynamic accuracy is verified with the following measurements:
      – Compression over frequency
      – IF linearity at two frequencies (1 MHz and 1.195 GHz) using a reference level of –10 dBm for an input power range of
      0 to –60 dBm. For value below –60 dBm, refer to "VNA Receiver Dynamic Accuracy Specifications and Uncertainties
      N5247-90003"
      http://cp.literature.keysight.com/litweb/pdf/N5247-90003.pdf

      Назад к списку

      Компания
      О компании
      Партнеры
      Вакансии
      Контакты
      Реквизиты
      Оборудование
      Аддитивные технологии
      Оборудование для интегральной фотоники
      Исследовательское оборудование
      Новые материалы
      Услуги
      Аддитивное проектирование
      Фотоника
      Заказное производство
      Техническое обслуживание
      Обучение и консалтинг
      8 800 222-77-59
      in@infcs.ru
      Головной офис г. Пермь

      +7 342 225-11-31
       ул. Стахановская, 54П, офис 231


      © 2025 Все права защищены.
      ООО "ИННФОКУС"
      Нас ищут: инфокус (infocus)

      Политика конфиденциальности
      Положение об антикоррупционной политике