Высокоточный измеритель оптической задержки ODM-P
Высокоточный измеритель оптической задержки (ODM) основан на технологиях радиофотоники и предназначен для точного измерения параметров задержки сигналов в оптических волокнах, устройствах на базе ФИС и устройств на их основе.
Характеристики
Производитель
—
PANDA Photonic
Модель
—
ODM-P
Высокоточный измеритель оптической задержки ODM-P
Высокоточный измеритель оптической задержки (ODM) основан на технологиях радиофотоники и предназначен для точного измерения параметров задержки сигналов в оптических волокнах, устройствах на базе ФИС,оптических усилителей (EDFA), гидрофонов (интерферометров), ВЧ-трактов radio-over-fiber и т.д. Сравнение с технологией OTDR: обеспечивает более высокую точность при сопоставимой дальности.
- Максимальный диапазон: 500 мкс (эквивалентно 100 км)
- Время одного измерения менее 0,5 с
- Поддержка диапазонов длин волн от 850 нм до C-band
- Совместимость с другими системами: поддержка дистанционного управления через API, наличие разнообразных программных и аппаратных интерфейсов для проведения тестирования.
- Прецизионный контроль задержки элементов фазированных антенных решеток
- Прецизионное измерение задержки сигнала в коммуникационных системах
- Прецизионное измерение задержки в объемных оптических системах
Особенности
- Высокая точность: 0,1 пс (эквивалентно 0,02 мм)- Максимальный диапазон: 500 мкс (эквивалентно 100 км)
- Время одного измерения менее 0,5 с
- Поддержка диапазонов длин волн от 850 нм до C-band
- Совместимость с другими системами: поддержка дистанционного управления через API, наличие разнообразных программных и аппаратных интерфейсов для проведения тестирования.
Применение
- Прецизионное измерение разности плеч оптоволоконного интерферометра- Прецизионный контроль задержки элементов фазированных антенных решеток
- Прецизионное измерение задержки сигнала в коммуникационных системах
- Прецизионное измерение задержки в объемных оптических системах
Документы
| Параметр | Типовое значение | Параметр | Типовое значение |
|---|---|---|---|
| Точность измерения длины | ±(0,1 мм + 0,001‰ * расстояние) |
Точность измерения задержки |
±(0,5 пс + 0,001‰ * задержка) |
| ±0,1 мм @100 м | ±0,5 пс @100 м | ||
| ±1 мм @1 км | ±5 пс @1 км | ||
| ±10 мм @10 км | ±50 пс @10 км | ||
| Разрешение измерения длины | 0,01 мм | Разрешение измерения задержки | 0,01 пс |
| Макс. длина измеряемого оптоволокна | 5 км (расширяемо до 20 км, 100 км) | Время одного измерения | < 0,5 с |
| Выходная оптическая мощность (режим разности плеч) | -10 — 0 дБм | Максимальная длина измеряемого плеча интерферометром | 500 м |
| Максимальная разность плеч, измеряемая интерферометром | 100 м | Максимальная принимаемая оптическая мощность | +10 дБм |
| Чувствительность оптического приёмника | -30 дБм | Время прогрева прибора | ≥ 15 мин |
| Общее количество оптических трактов | 1 тракт (расширяемо до 16 керн) | Тип измеряемых оптоволокон | Одномодовые, многомодовые и поляризационно-устойчивые |
ODM-C / ODM-S
| Точность измерения длины (≤200 м) | Точность измерения длины (≤200 м) |
| Диапазон измерения длины | 0 – 5000 м (задержка 25 мкс) |
| Два режимы работы | Cквозной и отражательный |
| Метод задания показателя преломления и калибровки | Автоматический |
| Количество тестовых каналов | 1 |
Информация для заказа ODM-P-C/S или ODM-P-C/S-E
| ODM-P-S-D | Источник света на фиксированной длине волны 1550 нм |
| Источник света на фиксированной длине волны 1310 нм | |
|
ODM-P-S-E |
Источник света на фиксированной длине волны 1550 нм |
| Источник света на фиксированной длине волны 1310 нм | |
| Источник света на фиксированной длине волны 1064 нм | |
| Источник света на фиксированной длине волны 850 нм (многомодовый) | |
| Перестраиваемый источник света диапазона C | |
| Перестраиваемый источник света диапазона L | |
| Опциональный блок измерения дисперсии | |
| Опциональный модуль измерения длины плеча интерферометра | |
| Диапазон измерения: 100 м | |
| Точность измерения: ±0,1 мм (задержка ±0,5 пс) | |
| Опциональный блок температурного контроля: изоляция температуры внутри и снаружи прибора, независимое температурное регулирование для повышения точности и долговременной стабильности | |
| Опциональный модуль измерения длины плеча интерферометра | |
| Опциональные диапазоны |
|
| Опциональные общие модули | Активный измерительный модуль (подходит для всех моделей выше; позволяет измерять задержку между электрическими портами в ВЧ-оптической линии) |
