Оптический рефлектометр частотной области OFDR-1550P
Предназначен для локализации дефектов и оценки параметров пассивных оптических компонентов и волоконно-оптических линий.
Характеристики
Производитель
—
PANDA Photonic
Модель
—
OFDR-1550P
Оптический рефлектометр частотной области OFDR-1550P
Предназначен для локализации дефектов и оценки параметров пассивных оптических компонентов и волоконно-оптических линий. Прибор функционирует на основе технологии оптической рефлектометрии в частотной области OFDR. В отличие от лабораторных OFDR-систем (NA-1000P) с микронным разрешением, данная версия прибора оптимизирована для работы на линиях средней протяженности с миллиметровым пространственным разрешением.
Особенности
- Оптимизированная стоимость при сохранении ключевых функций OFDR- Уменьшенная масса и габариты прибора
- Пространственное разрешение < 1 мм
- Динамический диапазон более 70 дБ
- Доступна индивидуальная конфигурация
Применение
- Обнаружение, локализация и характеризация дефектов оптических волокон- Поиск неисправностей в оптических сетях дата-центров
- Высокоточная локализация мест сварки и изгибов оптических волокон
- Анализ параметров оптических волокон
- Анализ вносимых (IL) и возвратных (RL) потерь оптоволоконных компонентов
Программное обеспечение
Позволяет настраивать параметры измерений, отображать зависимость вносимых и возвратных потерь в линии и предоставляет инструменты для визуализации и анализа рефлектограмм.
Документы
| Параметр | Единица измерения | Типичное значение |
|---|---|---|
| Центральная длина волны | нм | 1555 ± 5 |
| Пространственное разрешение | мм | ≤ 1 |
| Максимальная длина измерения | м | 100 |
| Разрешение измерения длины | мм | 1 |
| Динамический диапазон измерения обратных потерь | дБ | ≥ 70 |
| Точность измерения возвратных потерь | дБ | ± 0,5 |
| Динамический диапазон измерения вносимых потерь | дБ | > 15 |
| Разрешение измерения вносимых потерь | дБ | ± 0,1 |
| Точность измерения вносимых потерь | дБ | ± 0,2 |
| Точность измерения групповой задержки | пс | 1,0 |
| Время тестирования всех параметров | с | ≤ 2 |
| Мощность лазерного источника | мВт | > 2 |
| Одномодовый режим: длина волны | нм | 1550 ± 10 |
| Одномодовый режим: тип оптического волокна | мкм |
9/125 |
| Многомодовый режим: длина волны | нм | 850 (через многомодовый конвертер) |
| Многомодовый режим: тип оптического волокна | мкм | 50/125 и 62,5/125 (через многомодовый конвертер) |
ИНФОРМАЦИЯ ДЛЯ ЗАКАЗА OFDR-1550P
| Опция | Наименование | Описание |
|---|---|---|
|
Оптический рефлектометр частотной области OFDR-1550P |
||
| OFDR-P | Оптический рефлектометр частотной области |
|
|
Дополнительные опции |
||
| OFDR-1550P-H | Высокое спектральное разрешение | Возможность улучшения пространственного разрешения ≤ 1 мм |
| OFDR-1550P-MM | Преобразования SM в MM | Наличие преобразователя для работы в многомодовом режиме (multi‑mode testing) |
