Промышленный компьютерный томограф Phoenix V|tome|x M
ФУНКЦИОНАЛЬНЫЕ ВОЗМОЖНОСТИ
Решение широкого спектра инспекционных задач 3D-компьютерной томографии высокого разрешения и 2D-инспекции больших объектов. Система позволяет распознавать детали размером менее 1 мкм, что делает ее лидером индустрии среди компактных систем.
- Анализ внутренних дефектов/количественный анализ пор
- Контроль качества сборки изделий
- Анализ структуры материалов (аддитивных порошков, композитов и пр.)
- Метрологические измерения с точностью 4 мкм + L[мм]/100
- Сравнение с CAD-данными
- Обратный инжиниринг
- Анализ толщины стенок
Микрофокусная трубка опционально может быть оснащена новой высокопоточной мишенью, позволяющей до 2 раз увеличить производительность системы либо проводить сканирования с удвоенным разрешением.
Систему можно дополнительно оснастить нанофокусной трубкой, что значительно повысит универсальность и позволит получать детальную 3D-информацию до 0,2 мкм для широчайшего диапазона исследуемых объектов.
Наличие детектора нового поколения с размером пикселя 100 мкм, программной опции для автоматизированного процесса сканирования и возможность оснащения роботом дают возможность применять систему для потокового КТ-контроля. При этом процесс контроля будет полностью автоматизирован, начиная от загрузки образцов с дальнейшим подбором параметров сканирования, выполнением сканирования, обработкой 3D-модели и заканчивая выводом отчета по заданной форме.
Система Phoenix V|tome|x M оснащена технологией коррекции рассеянного рентгеновского излучения, что особенно важно для контроля сильнопоглощающих изделий на основе железа, никеля (например, турбинных лопаток). Данная технология представляет собой программно-аппаратный комплекс, который в автоматическом режиме убирает артефакты рассеянного излучения из 3D-модели, что позволяет получать лучшие результаты в сравнении с обычной томографией на плоскопанельный детектор.
- Первая в мире компактная микрофокусная система компьютерной томографии с возможностью определения деталей размером менее 1 мкм
- Возможность применения долговечных катодов со сроком службы до 10 раз больше в сравнении с обычными
- Уникальная возможность использования двух трубок (dual|tube) для проведения как микро-КТ сильнопоглощающих образцов, так и нано-КТ высокого разрешения
- Использование высокопоточной мишени для получения результатов с удвоенным разрешением или уменьшением времени сканирования до 2 раз
- Технология коррекции рассеянного рентгеновского излучения, позволяющая значительно улучшить результаты КТ-сканирования
- Новый детектор dynamic 41|100: увеличение производительности в 2 раза
- Манипулятор на гранитном основании для высокой точности и повторяемости 3D-измерения
- Внесен в Госреестр СИ, номер 74841-19
ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ PHOENIX V|TOME|X M240 И M300
Количество рентгеновских трубок | 2 (микрофокусная + нанофокусная) |
Максимальное напряжение основной рентгеновской трубки, кВ |
240|M240 300|M300 |
Максимальная мощность основной рентгеновской трубки, Вт |
320|M240 500|M300 |
Различимость деталей основной рентгеновской трубки, мкм | ≤ 1 |
Конструкция основной рентгеновской трубки | Открытая, с массивной мишенью |
Максимальное напряжение дополнительной рентгеновской трубки, кВ | 180 |
Максимальная мощность дополнительной рентгеновской трубки, Вт | 20 |
Различимость деталей дополнительной рентгеновской трубки, мкм | ≤ 0,2 |
Конструкция дополнительной рентгеновской трубки | Открытая, с прострельной мишенью |
Физическое разрешение детектора, МПикс | 4 либо 16 |
Чувствительная площадь детектора, мм2 | 410 × 410 |
Размер пикселя детектора, мкм | 200 либо 100 |
Максимальные размеры исследуемого образца (диаметр х высота), мм | 500 × 600 |
Максимальный объем томографии без переворота образца, мм | 420 × 400 |
Максимальный вес образца, кг | 50 кг, 20 кг (для метрологических систем) |
Манипулятор | 5 степеней свободы |
Габариты установки, Ш х Г х В, включая зону обслуживания, мм | 2620 × 2980 × 2060 |
Вес, кг |
5600|M240 7960|M300 |
Функциональные возможности | |
2D-инспекция | Да |
Полностью автоматизированный процесс КТ-контроля | Да |
Коррекция рассеянного излучения | Да (опционально) |
Метрология | Да (опционально) |
Роботизированный контроль и интеграция системы в производственную линию (in-line) | Да (опционально) |