Корпоративный сайт
8 800 222-77-59
Задать вопрос
Компания
  • О компании
  • Партнеры
  • Вакансии
  • Контакты
Оборудование
  • Аддитивные технологии
    • Специализированное ПО
    • Аддитивное производство
    • Вспомогательное оборудование
    • Контроль качества
    • Материалы для 3D печати
  • Интегральная фотоника
    • Оптические измерения
    • Источники излучения и аттенюаторы
    • Монтаж волоконных выводов
    • Оптические зондовые станции
    • Инспекция / контроль качества
    • Системы позиционирования и оптомеханика
    • Оборудование для волоконной оптики
    • Испытания устройств внешним воздействием
  • Исследовательское оборудование
    • Анализ формы и размера частиц
    • Элементный анализ
    • Микроскопия
    • Электронная микроскопия
    • Анализ поверхности и наноструктур
    • Механические испытания
  • Новые материалы
    • Нановолокна
Услуги
  • Аддитивное проектирование
    • Проектирование и Реверс-инжиниринг
    • Моделирование процессов аддитивного производства и компенсация технологических деформаций
    • Технологическая подготовка в аддитивном производстве
    • Инженерный анализ, оптимизация конструкций и метаматериалов
  • Фотоника
    • Разработка измерительных комплексов
    • Разработка систем юстировки оптических каналов
  • Заказное производство
    • Обработка сложнопрофильных металлических деталей
    • Разработка и производство функциональных макетов
  • Техническое обслуживание
    • Техническое обслуживание
  • Обучение и консалтинг
    • Обучение и консалтинг
Новости
Статьи
Федеральный
Санкт-Петербург
Москва
Пермь
Федеральный
Иннфокус
Компания
  • О компании
  • Партнеры
  • Вакансии
  • Контакты
Оборудование
  • Аддитивные технологии
    Аддитивные технологии
    • Специализированное ПО
    • Аддитивное производство
    • Вспомогательное оборудование
    • Контроль качества
    • Материалы для 3D печати
  • Интегральная фотоника
    Интегральная фотоника
    • Оптические измерения
    • Источники излучения и аттенюаторы
    • Монтаж волоконных выводов
    • Оптические зондовые станции
    • Инспекция / контроль качества
    • Системы позиционирования и оптомеханика
    • Оборудование для волоконной оптики
    • Испытания устройств внешним воздействием
  • Исследовательское оборудование
    Исследовательское оборудование
    • Анализ формы и размера частиц
    • Элементный анализ
    • Микроскопия
    • Электронная микроскопия
    • Анализ поверхности и наноструктур
    • Механические испытания
  • Новые материалы
    Новые материалы
    • Нановолокна
Услуги
  • Аддитивное проектирование
    Аддитивное проектирование
    • Проектирование и Реверс-инжиниринг
    • Моделирование процессов аддитивного производства и компенсация технологических деформаций
    • Технологическая подготовка в аддитивном производстве
    • Инженерный анализ, оптимизация конструкций и метаматериалов
  • Фотоника
    Фотоника
    • Разработка измерительных комплексов
    • Разработка систем юстировки оптических каналов
  • Заказное производство
    Заказное производство
    • Обработка сложнопрофильных металлических деталей
    • Разработка и производство функциональных макетов
  • Техническое обслуживание
    Техническое обслуживание
    • Техническое обслуживание
  • Обучение и консалтинг
    Обучение и консалтинг
    • Обучение и консалтинг
Новости
Статьи
    Федеральный
    Санкт-Петербург
    Москва
    Пермь
    Федеральный
    8 800 222-77-59
    En
    Задать вопрос
    Иннфокус
    Компания
    • О компании
    • Партнеры
    • Вакансии
    • Контакты
    Оборудование
    • Аддитивные технологии
      Аддитивные технологии
      • Специализированное ПО
      • Аддитивное производство
      • Вспомогательное оборудование
      • Контроль качества
      • Материалы для 3D печати
    • Интегральная фотоника
      Интегральная фотоника
      • Оптические измерения
      • Источники излучения и аттенюаторы
      • Монтаж волоконных выводов
      • Оптические зондовые станции
      • Инспекция / контроль качества
      • Системы позиционирования и оптомеханика
      • Оборудование для волоконной оптики
      • Испытания устройств внешним воздействием
    • Исследовательское оборудование
      Исследовательское оборудование
      • Анализ формы и размера частиц
      • Элементный анализ
      • Микроскопия
      • Электронная микроскопия
      • Анализ поверхности и наноструктур
      • Механические испытания
    • Новые материалы
      Новые материалы
      • Нановолокна
    Услуги
    • Аддитивное проектирование
      Аддитивное проектирование
      • Проектирование и Реверс-инжиниринг
      • Моделирование процессов аддитивного производства и компенсация технологических деформаций
      • Технологическая подготовка в аддитивном производстве
      • Инженерный анализ, оптимизация конструкций и метаматериалов
    • Фотоника
      Фотоника
      • Разработка измерительных комплексов
      • Разработка систем юстировки оптических каналов
    • Заказное производство
      Заказное производство
      • Обработка сложнопрофильных металлических деталей
      • Разработка и производство функциональных макетов
    • Техническое обслуживание
      Техническое обслуживание
      • Техническое обслуживание
    • Обучение и консалтинг
      Обучение и консалтинг
      • Обучение и консалтинг
    Новости
    Статьи
      Федеральный
      Санкт-Петербург
      Москва
      Пермь
      Федеральный
      En
      Задать вопрос
      Иннфокус
      En
      Телефоны
      8 800 222-77-59 Федеральный
      Заказать звонок
      Иннфокус
      • Компания
        • Компания
        • О компании
        • Партнеры
        • Вакансии
        • Контакты
      • Оборудование
        • Оборудование
        • Аддитивные технологии
          • Аддитивные технологии
          • Специализированное ПО
          • Аддитивное производство
          • Вспомогательное оборудование
          • Контроль качества
          • Материалы для 3D печати
        • Интегральная фотоника
          • Интегральная фотоника
          • Оптические измерения
          • Источники излучения и аттенюаторы
          • Монтаж волоконных выводов
          • Оптические зондовые станции
          • Инспекция / контроль качества
          • Системы позиционирования и оптомеханика
          • Оборудование для волоконной оптики
          • Испытания устройств внешним воздействием
        • Исследовательское оборудование
          • Исследовательское оборудование
          • Анализ формы и размера частиц
          • Элементный анализ
          • Микроскопия
          • Электронная микроскопия
          • Анализ поверхности и наноструктур
          • Механические испытания
        • Новые материалы
          • Новые материалы
          • Нановолокна
      • Услуги
        • Услуги
        • Аддитивное проектирование
          • Аддитивное проектирование
          • Проектирование и Реверс-инжиниринг
          • Моделирование процессов аддитивного производства и компенсация технологических деформаций
          • Технологическая подготовка в аддитивном производстве
          • Инженерный анализ, оптимизация конструкций и метаматериалов
        • Фотоника
          • Фотоника
          • Разработка измерительных комплексов
          • Разработка систем юстировки оптических каналов
        • Заказное производство
          • Заказное производство
          • Обработка сложнопрофильных металлических деталей
          • Разработка и производство функциональных макетов
        • Техническое обслуживание
          • Техническое обслуживание
          • Техническое обслуживание
        • Обучение и консалтинг
          • Обучение и консалтинг
          • Обучение и консалтинг
      • Новости
      • Статьи
      Задать вопрос
      • Федеральный
        • Города
        • Санкт-Петербург
        • Москва
        • Пермь
        • Федеральный
      • 8 800 222-77-59 Федеральный
        • Телефоны
        • 8 800 222-77-59 Федеральный
        • Заказать звонок
      • Головной офис г. Пермь

        +7 342 225-11-31
        "Технопарк Пермь"
         ул. Стахановская, 54П, офис 211

        Проектный офис г. Москва

        +7 495 109-11-31
        БЦ White Stone
        4-й Лесной переулок, 4, 4-5 этаж


        Проектный офис г. Санкт-Петербург

        +7 812 209-11-31
        БЦ Renaissance Hall
        Щербаков пер., 14, 3 этаж
      • in@infcs.ru

      Детекторы CL

      Главная
      —
      Технологии
      —
      Исследовательское оборудование
      —
      Электронная микроскопия
      —
      Детекторы и аксессуары
      —Детекторы CL
      Детекторы CL
      Запросить коммерческое предложение
      Детекторы CL

      Для изучения материалов, испускающих видимый свет при облучении пучком электронов

      Подробнее
      Характеристики
      Производитель
      —
      TESCAN
      Детекторы CL
      Запросить коммерческое предложение
      • Описание
      Детектор катодолюминесцентного излучения используется для изучения люминесцентных материалов, испускающих видимый свет при облучении их пучком электронов.

      Компания TESCAN выпускает следующие виды CL-детекторов:

      • панхроматический CL-детектор со спектральным диапазоном 350 – 650 нм;
      • панхроматический CL-детектор с расширенным спектральным диапазоном 185 – 850 нм;
      • цветной CL-детектор со спектральным диапазоном 350 – 850 нм.

      Каждый из вышеперечисленных CL-детекторов может быть компактным либо полновесным. Полновесные CL-детекторы имеют либо моторизованное устройство вдвижения/выдвижения, либо ручное. Компактные CL-детекторы имеют ручное устройство вдвижения/выдвижения. В компактном варианте CL-детектор не имеет параболического зеркала, что снижает его чувствительность в 4 раза. Однако в этом случае нет конфликта CL-детектора с BSE-детектором за место под полюсным наконечником объективной линзы, поэтому CL- и BSE-снимки могут накапливаться одновременно. В полновесном варианте CL-детектор имеет параболическое зеркало и становится более чувствительным, но под пучок электронов в каждый момент времени можно вдвинуть либо BSE-детектор, либо CL-детектор с его массивным параболическим зеркалом, поэтому BSE- и CL-снимки можно собирать лишь последовательно. Параболическое зеркало позволяет собирать видимый свет с большого телесного угла и направлять его в световод. Чем шире телесный угол сбора, тем выше чувствительность CL-детектора. Однако слишком большой телесный угол означает слишком громоздкую конструкцию CL-детектора, что будет ограничивать размещение других устройств на камере SEM, поэтому разработчики CL-детекторов ищут компромиссы.

      Формирование цветного CL-изображения

      Рисунок 1. Формирование цветного CL-изображения

      Цветной CL-детектор имеет четыре канала: R-, G-, B-каналы и панхроматический канал. Перед каждым каналом установлен свой фильтр, пропускающий дальше в канал лишь определённую часть спектрального диапазона CL-излучения. Для понимания того, как три чёрно-белых снимка R, G и B объединяются в один цветной снимок, можно сравнить изображения с каждого из трёх каналов и суммарное цветное CL-изображение минералогического образца на рисунке 1. На чёрно-белом снимке канала Red наблюдается яркая вертикальная полоса, и эта полоса стала красной на цветном кадре. Остальное вещество данного образца яркое на снимке Blue, и на цветном кадре оно выглядит синим. На снимке канала Green мы не видим крупных ярких компонентов, и, соответственно, на цветном кадре нет оттенков зелёного.

      Рассмотрим принцип работы катодолюминесцентного детектора. Катодолюминесценция — это способность образца испускать видимый свет при облучении его пучком электронов. Принцип формирования катодолюминесцентного излучения удобно объяснять с помощью зонной теории твёрдого тела. В металлах всегда существует значительное число свободных, отделившихся от атомов электронов. В полупроводниках число таких электронов проводимости существенно меньше. Большинство электронов находятся в связанных с атомами состояниях (связанные или валентные электроны) и не могут переходить от атома к атому. Для того чтобы перевести электрон из связанного состояния в свободное, в котором он легко перемещается по телу, необходимо сообщить этому электрону некий запас энергии, называемой энергией активации, равной или несколько больше энергетического зазора между зонами электронов проводимости (зона проводимости) и валентными электронами (валентная зона), называемого шириной запрещённой зоны. Добавочная энергия может передаваться электронам извне, например, при облучении образца электронами. Когда электрон переходит из связанного состояния в свободное, то есть из валентной зоны в зону проводимости, в этом месте полупроводника вместо нейтрального атома остается положительный ион – дырка. Происходит процесс генерации электронно-дырочных пар. Однако в полупроводнике постоянно происходит и противоположный процесс – захват освобождённых электронов атомом, потерявшим свой электрон. Этот процесс называют процессом рекомбинации, в результате которого электроны возвращаются в валентную зону, при этом исчезают свободный электрон и свободная дырка. При рекомбинации электронов и дырок выделяется избыточная энергия, которая может проявляться в виде дополнительных колебаний кристаллической решётки полупроводника (фононов) или образования световых квантов (фотонов). Рекомбинация электронов и дырок, приводящая к образованию фотонов, называется излучательной и представляет собой катодолюминесцентное излучение. Если вещество имеет донорные или акцепторные примеси, то внутри запрещённой зоны появляются подуровни, и значит рекомбинация электрона с этих подуровней (на эти подуровни) будет сопровождаться испусканием фотона, энергия которого будет изменена по сравнению с чистым веществом, что отразится на оттенке катодолюминесцентного излучения.

      Обычно CL-детектор имеет коллекторную систему (сбор излучения и его вывод), систему спектрального анализа излучения и систему регистрации. Как было сказано выше, коллекторная система чаще всего является зеркально-линзовой и конструируется так, чтобы собрать излучение с объекта как можно полнее. В качестве детекторов светового излучения при работе в видимой области спектра используются фотоэлектронные умножители, а в ближней инфракрасной области – твердотельные фотодетекторы.

      CL-излучение имеет следующие характеристики, которые могут быть детектированы:

      • интенсивность светового потока;
      • преимущественный цвет излучения (поскольку речь идёт об излучении в видимом диапазоне, то, в отличие от других диапазонов шкалы электромагнитных волн, у CL-излучения есть такая характеристика как цвет);
      • спектр CL-излучения, т.е. разложение CL-излучения по длинам волн;
      • скорость затухания CL-сигнала, что доступно для наблюдения, если у электронного микроскопа имеется быстро срабатывающий прерыватель пучка (Beam Blanker);
      • зависимость формы CL-спектра от тока пучка электронов или от энергии пучка электронов.

      В соответствии с этим бывают разные типы CL-детекторов, которые отличаются тем, какую CL-информацию они собирают, а также ценой.

      • Панхроматический CL-детектор. По ходу движения пучка электронов регистрирует суммарную интенсивность светового потока от каждой точки на поверхности образца. Изображение строится чёрно-белым, где яркость в градациях серого пропорциональна интенсивности светового потока в данном пикселе.
      • Цветной CL-детектор. То же, что панхроматический, только помимо суммарной интенсивности детектирует также такую характеристику как цвет CL-излучения. CL-снимки – это снимки в реальных цветах (настолько, насколько реальным является происходящее в темноте вакуумной камеры микроскопа).
      • CL-спектрометр, где каждой точке поверхности образца ставится в соответствие CL-спектр, разложенный по длинам волн, а не просто цветной либо чёрно-белый пиксель.

      CL-изображение бриллианта

      Рисунок 2. CL-изображение бриллианта

      CL-изображения циркона

      Рисунок 3. CL-изображения циркона

      Как уже было сказано выше компания TESCAN выпускает панхроматические и цветные CL-детекторы, а CL-спектрометры – это оборудование стороннего производителя, которое может быть установлено на колонну TESCAN, равно как и на колонны других производителей микроскопов. На рисунках 2, 3 представлены изображения, полученные с помощью CL-детектора.

      Назад к списку
      Компания
      О компании
      Партнеры
      Вакансии
      Контакты
      Оборудование
      Аддитивные технологии
      Интегральная фотоника
      Исследовательское оборудование
      Новые материалы
      Услуги
      Аддитивное проектирование
      Фотоника
      Заказное производство
      Техническое обслуживание
      Обучение и консалтинг
      8 800 222-77-59
      in@infcs.ru
      Головной офис г. Пермь

      +7 342 225-11-31
      "Технопарк Пермь"
       ул. Стахановская, 54П, офис 211

      Проектный офис г. Москва

      +7 495 109-11-31
      БЦ White Stone
      4-й Лесной переулок, 4, 4-5 этаж


      Проектный офис г. Санкт-Петербург

      +7 812 209-11-31
      БЦ Renaissance Hall
      Щербаков пер., 14, 3 этаж

      © 2022 Все права защищены.
      ООО "ИННФОКУС"
      Нас ищут: инфокус (infocus)

      Политика конфиденциальности
      Главная Оборудование Контакты Услуги Новости Партнеры Компания